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热像仪如何工作？
热像仪捕捉表面的红外辐射（IR），并结合发射率（ε）、反射温度（RTC）、距离和对焦等测量参数，将其转换为每个像素的温度值。结果是热图，可以显示温度分布，从而快速定位热桥或热点等异常。
热像仪在实际应用中测量什么？
在实际应用中，热像仪测量从视场到达探测器的辐射，并据此推导表面温度。因此，测量值并不是“材料的纯温度”，而是取决于被测物体的发射、周围环境的反射以及成像情况（物体尺寸与像素/IFOV 的关系）。要正确解读热图，必须充分考虑这三种影响。
基础知识：红外辐射和热图
热成像技术让肉眼看不见的长波红外辐射变得可见。这种辐射属于电磁辐射，表面会根据自身温度和材料特性发出这种辐射。
为什么每个物体都会发出 IR 辐射
所有高于绝对零度的物体都会发出热辐射。温度越高，辐射功率越大。对于热成像来说，表面“发射或反射得好不好”同样重要，这就是为什么两个温度相同的材料可能呈现出不同的“外观”。
从 IR 信号到图像：探测器、信号处理、色标
在探测器（通常为微测辐射热计）中，入射的 IR 辐射会改变许多微小传感元件的电阻。热像仪电子系统处理这些信号，根据设定参数进行校正，并据此生成每个像素的温度值。色标随后将这些值可视化，它可以增强对比度，但不会改变测量的物理基础。
热像仪测量什么，以及不测量什么
热图是一种测量图像，但它仍然是在具体边界条件下进行的表面测量。
测量表面温度，而非“部件内部的温度”
热像仪主要测量表面温度。对于绝缘管道、多层部件或有空气流通的结构，表面温度可能与内部温度或介质温度存在明显差异。因此，根据任务需要，进行补充测量有助于获得可靠的诊断结果。
无法透视墙壁
热像仪无法“透视”坚固且不透明的建筑材料。它们显示的是表面的温度模式。如果墙后有物体升温，可能会以表面模式的形式间接显现，但这并不是透视，而是表面的热传导和成像。
测量参数为何会改变温度值
如果要使用绝对温度（例如限值和可比性），就必须主动设置测量参数。没有参数设置时，许多场景虽然可以作为模式解读，但绝对值可能会系统性地偏离。
发射率 (ε)
发射率描述表面发出 IR 辐射的效率。较低的 ε（光亮金属的典型特征）意味着反射多、发射少。如果不进行校正，热像仪通常测不到表面的实际值，而是测得物体与反射环境的混合值。
反射温度 (RTC)
RTC 描述了在反射表面上“反射”并计入测量值的有效环境辐射。当周围环境存在强烈的温度对比（例如发热的机器、散热器和人员），且被测表面具有反射性时，RTC 尤其重要。
测量距离/IFOV 和对焦
一个像素始终代表一个角度范围。如果被测物体成像过小（距离过远或光学系统的视角过大），就会产生由物体和背景组成的混合像素。此外，对焦错误会导致温度信息“模糊”，使测量点不稳定。
实际示例：热点为何有时会“移动”
电气热成像中有一种典型误解：改变观察角度后，热点似乎发生了移动。常见原因包括光亮表面的反射（ε/RTC 不匹配）、视角改变、距离不同（IFOV）或焦点未准确对准目标。实用提示：进行对比测量时，应始终记录距离，保持相近视角并使用一致的色标。
热像仪利用红外辐射将温度差异显示为热图，因此是测量表面温度模式的仪器。夜视仪会根据技术类型增强现有的可见光或近红外光，以便在黑暗中“看得更多”，但不会提供基于温度的测量信息。因此，对于热桥、热点等技术诊断，热成像是合适的工具。
